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「석면안전관리 역량강화 교육」 행사로 도움센터(1661-4072)운영이 일시 중단됩니다. 질의응답 게시판을 이용하여 주시기 바랍니다.
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고형시료는 건축자재(building material), 마찰재(insulation), 석면함유가능가능물질(naturally occurring asbestos), 폐기물(waste), 토양(soil)등으로 구분하여 해당하는 시험방법을 적용하여 분석한다.
고형시료에 주로 사용되는 분석장비로는 편광현미경과 X-선 회절분석기가 사용되나 일부 시료에 대해서는 전자현미경을 사용한다.
| 편광현미경법 | 활석(탈크, Talc) 중 석면분석방법 |
- 편광현미경과 입체현미경을 이용하여 탈크 중 석면의 특성을 관찰하여 정성분석을 하기 위한 방법이다. - 적용범위 : 탈크 중 포함된 모든 석면 유무를 판단할 수 있다. 편광현미경으로 판단할 수 있는 석면의 정량범위는 1% 이상이다. |
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| 석면 |
- 편광현미경과 입체현미경을 이용하여 고체 시료중 석면의 특성을 관찰하여 정성과 정량분석을 하기 위한 방법이다. - 적용범위 : 고형폐기물을 포함한 건축자재의 분석에 사용되며 유기 및 무기성분의 조합으로 된 모든 석면함유 물질에서 석면 유무를 판단할 수 있다. 편광현미경으로 판단할수 있는 석면의 정량범위는 1~100 % 이다. |
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| X-선 회절기법 | 탈크(Talc) 중 석면분석방법 |
- X-선 회절기를 이용하여 탈크 파우더 중 석면의 특정한 회절 피크의 특성을 관찰하여 정성 및 정량분석을 하기 위한 방법이다. - 적용범위 : 탈크 파우더 중 모든 석면 종류의 함유 유무를 판단할 수 있다. X-선 회절기로 판단할 수 있는 석면의 정량범위는 1~100.0 wt% 이다. |
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| 석면 |
- X-선 회절기를 이용하여 시료 중 석면의 특정한 회절 피크의 특성을 관찰하여 정성 및 정량분석을 하기 위한 방법이다. - 적용범위 : 고형폐기물을 포함한 건축자재의 분석에 사용되며 유기, 무기성분의 조합으 로 된 모든 석면함유 물질에서 석면 유무를 판단할 수 있다. X-선 회절기로 판단할 수 있는 석면의 정량범위는 0.1~100.0 wt% 이다. |
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석면조사 및 안전성 평가 등에 관한 고시 [고용노동부고시 제2022-9호] [별표 1] 편광현미경을 이용한 건축자재 등의 석면분석법 |
- 이 분석법은 건축자재 등 고형시료 중 석면형태를 보이는 물질의 굴절률 등 결정광학특성을 확인하여 석면 함유 여부와 함유된 석면의 종류 및 함유율을 분석하는 방법으로, 함유율은 백분율(%)로 표현한다. - 적용범위 : 토양시료 중의 석면분석에 사용되며 편광현미경으로 판단할 수 있는 석면의 정량범위는 0.25~100%이다. 유효측정한계는 0.25% 이상으로 한다. |
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| 고형시료의 석면 분석방법 |
- KS L 5300 : 2009 (고형시료의 석면분석방법) - 적용범위 : 이 표준은 석면이 함유된 고형시료 상태의 제품 및 원료 중의 석면 분석방법에 대하여 규정한다. - 이 방법에는 석면함유제품의 시료 전처리 방법, 편광현미경을 이용한 석면분석방법, X-선 회절분석장비를 이용한 석면분석방법등을 규정한다. - 원문 : 국가표준인증종합정보센터 [http://www.standard.go.kr] |
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| 마찰재 중 석면분석방법 | US EPA-600 /M4-82-020 |
- 측정범위 : 점계수법을 이용한 석면의 정량범위는 0~100%이다. 토양시료 중의 석면분석에 사용되며 편광현미경으로 판단할 수 있는 석면의 정량범위 0.25~100%이다. 상한검출한계는 100%, 하한검출한계는 1% 미만이다. - 분석장비는 편광현미경(polarized light microscope)과 X-선 회절기(x-ray diffractometer)를 사용한다. - 원문 : US EPA 홈페이지 [http://www.epa.gov] |
| 건축자재 중 석면분석방법 | US EPA-600 /R-93-116 |
- 측정범위 : 점계수법을 이용한 석면의 정량범위는 0~100%이다. 토양시료 중의 석면분석에 사용되며 편광현미경으로 판단할 수 있는 석면의 정량범위는 0.25~100%이다. 상한검출한계는 100%, 하한검출한계는 1% 미만이다. - 분석장비는 실체현미경(stereo microscope), 편광현미경(polarized light microscope), X-선 회절기(x-ray diffractometer) 및 분석전자현미경(analytical electron microscope)을 사용한다. - 원문 : US EPA 홈페이지 [http://www.epa.gov] |
| 편광현미경을 이용한 고형시료 중 석면분석방법 | US NIOSH Manual of Analytical Methods (NMAM) 9002 |
- 측정범위 : 1% ~ 100% - 검출한계 : 1% - 이 분석방법은 고형시료에서 석면의 정성분석과 석면의 반정량 분석을 하는데 적용된다. - 원문 : US NIOSH 홈페이지 [http://www.cdc.gov/niosh] |
| X-선 회절분석기를 이용한 고형시료 중 백석면 분석방법 | US NIOSH Manual of Analytical Methods (NMAM) 9000 |
- 측정범위 : 1 ~ 100%(w/w) - 검출한계 : 탈크와 방해석 중의 석면은 0.2%, Fe2O3같이 X-선 흡수가 많은 시료들은 0.4% - 이 분석방법은 고형시료에서 백석면의 정성 및 정량을 분석 하는데 적용된다. - 원문 : US NIOSH 홈페이지 [http://www.cdc.gov/niosh] |
| 건축제품 중 석면 함유량 측정방법 | JIS A 1481 : 2008 |
- 이 시험방법 X-선 회절장치와 위상차분산현미경을 이용하여, 건축자재중 석면 함유량을 측정하기 위한 방법으로 일차분석시료의 제작방법, 1차 시료에서의 정성분석방법, 석면함유의 유무의 판정방법, 정량을 위한 2차분석시료 또는 3차 분석시료의 제작방법과 기저표준흡수보정법에 의한 X-선 회절 정량분석방법에 대하여 규정한다. - 측정가능한 건축자제품에는 내화피복재(흡음재 포함), 질석을 원료로 하는 흡음재, 내장재(성형판), 바닥타일, 외장재(성형판, 몰탈), 지붕재, 굴뚝재, 보온재, 방직재(옷), 실링재, 신축 이음재등이 있다. - 석면이 불순물로 함유 우려가 있는 천연 광물 및 그것을 원료로 된 제품(질석을 원료로 한 흡음재 제외)에 대해서는 적용하지 않는다. - 원문 : 일본 (재)일본규격협회 홈페이지 [http://www.jsa.or.jp] |
| 고형시료 중 석면의 정성확인 방법 | AS 4964 : 2004 |
- 이 시험방법 분산염색(dispersion staining)기술과 편광현미경(PLM)을 이용하여 고형시료에서 백석면, 갈석면 및 청석면을 정성 식별하는 방법이다. - 고형시료에는 건축자재, 토양과 광물이 포함된다. - 원문 : 호주 표준협회 홈페이지 [http://www.standards.org.au] |
