• 일반적으로 석면의 정량과 정성분석은 편광현미경(PLM), X-선 회절분석기(XRD), 주사전자현미경(SEM), 투과전자현미경(TEM)등으로 가능하다.
• 석면의 분석은 건축자재 등 고형시료 중 석면 함유율 분석과 공기 중 석면 섬유의 계수분석으로 나눌 수 있다.
-고형시료 중 석면 함유율 분석
편광현미경법(PLM), 투과전자현미경법(TEM), 주사전자현미경법(SEM), 엑스선회절분석법(XRD), 열분석법(TG-DTA) 등이 있고, 편광현미경법과 투과전자현미경법이 가장 보편화 되어 있다.
-공기 중 석면 섬유의 계수분석
위상차현미경법(PCM), 투과전자현미경법(TEM), 주사전자현미경법(SEM) 등이 있으나 위상차현미경법이 가장 보편화 되었지만 미국 EPA에서는 투과전자현미경법을 주로 사용한다.
| 광학현미경법 | 위상차현미경법(PCM) | 공기 중 섬유상 입자 정량 |
|---|---|---|
| 편광현미경법(PLM) | 고형시료 중 석면 정성, 정량 | |
| 전자현미경법 | 투과전자현미경법(TEM) | 공기/고형시료 중 석면 정성, 정량 |
| 주사전자현미경법(SEM) | 공기/고형시료 중 석면 정성, 정량 | |
| 기타 | 엑스선회절분석법(XRD) | 고형시료 중 석면 정량 |
일반적으로 석면의 정량과 정성분석은 편광현미경(PLM), X-선 회절분석기(XRD), 주사전자현미경(SEM), 투과전자현미경(TEM)등으로 가능하다.
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위상차 현미경(Phase Contrast Microscope, PCM) - 분석 대상물질을 현미경으로 볼 때 각 부분에 투과되는 빛의 위상차를 명암으로 바꾸어 상의관찰을 확인 가능하게 한다. - 길이 5um 보다 길고, 길이 : 직경 = 3:1을 초과하는 석면 섬유를 직접 계수한다. |
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편광현미경(Polarized Light Microscope, PLM) - 빛이 한쪽 방향으로 투과하는 편광을 이용하여 투과되는 물질의 광학적 성질을 이용하여 관찰한다. - 편광판을 통해 빛이 투과하면 한 방향으로만 진동하게 되고 2개의 편광판에 의한 빛의 굴절에 따라 물질 특성 및 성분을 구별하는 방법이다. - 대안렌즈, 상부 편광판, 대물렌즈, 회전 재물대, 수렴렌즈, 하부 편광판, 조리개 등으로 구성한다. |
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투과전자현미경(Transmission Electron Microscopy, TEM) - 회절패턴(Diffraction Pattern)을 이용하거나 X-ray Microanalysis 장치를 이용하여 확인한다. - 공기 중 석면시료 측정에 가장 정확한 방법으로 위상차현미경으로 볼 수 없는 매우 가는 섬유도 관찰가능하다. |
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X선 회절장비(X-ray diffraction, XRD) - X-선 회절기로 판단할 수 있는 석면의 정량범위는 0.1 ~ 100.0 중량백분율(wt%)이다. - X-선 회절은 물질을 형성하는 복잡한 원자 구조를 비파괴 방식으로 정확하게 분석하는 기법이다. |
